【仪器简介】

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2nm的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。

【功能/应用范围】

纳米材料，高分子材料，半导体材料，介观材料，微孔材料等的形貌观察、结构分析和微区在线元素分析。

【主要附件】

能量散射X射线分析系统（EDS），Oxford，INCA CCD相机，1K*1K，Gatan794 TV相机，Gatan 双倾加热台（Heating Specimen Holder），Gatan，最高加热温度1000摄氏度 Piezo漂移补偿系统 JEE400蒸镀仪

主要技术指标：点分辨率0.23nm，晶格分辨率0.14nm，放大倍率200-1500000。

我们的优势：
诚信客观：尊重客观实验结果，对各利益方保持中立态度；
专业尽责：对标准和法规把握到位，全力满足客户测试要求；
严谨高效：从客户申请到检测完成，对服务和数据力求严谨，高效；
优质服务：全力帮助客户解决技术和服务问题，客户的100%满意就是我们的出发点和落脚点；
注重沟通：注重与客户的沟通，团队成员间的沟通，提升效率，完善自我；
一站式服务。